SoC设计与测试

收藏
  • 【作者】(美)Rochit Rajsuman著;於敦山, 盛世敏, 田泽译
  • 【关键词】数字集成电路 芯片 设计 数字集成电路 芯片 测试
  • 【出版社】北京航空航天大学出版社
  • 【出版日期】2003
  • 【ISBN】7-81077-308-9
  • 【中图分类号】 TN470.2/TN431.2
  • 【内容简介】本书分为设计和测试两部分,分别介绍SoC的设计方法和测试方法。在设计部分,介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别,并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计方法和需要注意的问题,以及SoC系统的验证方法。在测试部分,介绍SoC中逻辑核、存储器核以及模拟核的测试结构与测试方法,还介绍Iddq测试在SoC测试中的应用,最后介绍产品测试中的需要注意的问题。全部展开
  • 【页码】210页
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    浙江图书馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
已保存的题录(0)
选出输出字段:
加载保存列表...
清空文件夹
注:
通过勾选,使对应参与检索,从而可以轻松获得更全面的检索结果。