透射电子显微学 下册

收藏
  • 【作者】David B. Williams,C. Barry Carter著;李建奇等译
  • 【关键词】透射电子显微术
  • 【出版社】高等教育出版社
  • 【出版日期】2019
  • 【ISBN】978-7-04-052413-0
  • 【中图分类号】 TN16
  • 【内容简介】本书为透射电子显微学下册,内容包括第三章及第四章,第3篇主要介绍成像的基本原理和各种成像类型、不同的成像技术,以及对实验图像的处理、分析和理论模拟;第4篇主要介绍X射线能谱和电子能量损失谱的基本原理和应用,以及与之相关的各种实验技术。全部展开
  • 【页码】649页
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    浙江图书馆 杭州图书馆 淳安图书馆分馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
已保存的题录(0)
选出输出字段:
加载保存列表...
清空文件夹
注:
通过勾选,使对应参与检索,从而可以轻松获得更全面的检索结果。