微电子器件封装与测试技术

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  • 【作者】李国良 ,刘帆 编著
  • 【关键词】微电子技术 微电子技术
  • 【出版社】清华大学出版社
  • 【出版日期】2018
  • 【ISBN】978-7-302-48756-2
  • 【中图分类号】 TN4
  • 【内容简介】电子器件封装及检测操作技术,包含微电子器件封装及检测两个部分,以操作技术为目的,图文并茂讲述微电子器件封装及检测操作技术。每个操作环节配二维码链接真实的生产操作视屏。全部展开
  • 【页码】162页页
  • 【文献类型】图书
  • 【所属馆】

    杭州图书馆 滨江区图书馆 宁波图书馆

  • 【获取途径】
联合资源统一检索系统 超星 V2.0
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